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亿华通-U申请膜电极串漏点检测专利，达到快速准确检测出膜电极CCM失效串漏点的目的

来源：金融界

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作者：情报员 2023-11-30 10:33:25

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（原标题：亿华通-U申请膜电极串漏点检测专利，达到快速准确检测出膜电极CCM失效串漏点的目的）

金融界2023年11月30日消息，据国家知识产权局公告，北京亿华通科技股份有限公司申请一项名为“膜电极串漏点检测装置及检测方法“，公开号CN117129151A，申请日期为2023年9月。

专利摘要显示，本发明提供了一种膜电极串漏点检测装置及检测方法。其中，膜电极串漏点检测装置，包括：观测板、显色纸、碳纸、钛毡、多孔底板、可充压水仓、密封及紧固装置；所述观测板、显色纸、碳纸、钛毡和多孔底板依次叠加在一起，密封及紧固装置将观测板和多孔底板固定；所述多孔底板的一面设置钛毡，所述多孔底板的另一面设置在可充压水仓上。

本文源自：金融界

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