信诺达申请射频芯片老化检测专利，具有高效和精准的检测射频芯片老化效果_财经频道

（原标题：信诺达申请射频芯片老化检测专利，具有高效和精准的检测射频芯片老化效果）

金融界2024年1月10日消息，据国家知识产权局公告，北京信诺达泰思特科技股份有限公司申请一项名为“一种射频芯片的老化检测系统及方法“，公开号CN117368688A，申请日期为2023年9月。

专利摘要显示，本发明涉及一种射频芯片的老化检测系统及方法，包括老化工作区模块、电源模块、检测模块、射频芯片和主控模块；射频芯片用于输出射频信号；主控模块根据预设老化检测时间分别自主控制电源模块和老化工作区模块向老化工作区模块输出电源和向射频芯片输出老化环境；检测模块检测射频信号相对应的可测量信号，并发送至主控模块；主控模块根据可测量信号生成检测结果。通过更简便的模拟出射频芯片的实际使用场景，进而对射频芯片进行老化检测并获取检测数据，解决了使用通常芯片的老化检测方式对射频芯片进行检测而导致检测不精准且检测较麻烦的问题，本发明具有高效和精准的检测射频芯片老化的效果。