伟测科技取得晶圆MAP图的转换系统和转换方法专利，实现晶圆检测设备能够直接读取的标准数据_财经频道

（原标题：伟测科技取得晶圆MAP图的转换系统和转换方法专利，实现晶圆检测设备能够直接读取的标准数据）

金融界2024年1月1日消息，据国家知识产权局公告，上海伟测半导体科技股份有限公司取得一项名为“一种晶圆MAP图的转换系统和转换方法“，授权公告号CN113011139B，申请日期为2021年3月。

专利摘要显示，本申请公开一种晶圆MAP图的转换系统和转换方法，其中所述晶圆MAP图的转换方法包括(S1)采集与待检测晶圆有关的格式文件中的数据，其中与待检测晶圆有关的格式文件中的数据被定义为待测晶圆数据，记载所述待测晶圆数据的文件格式被定位为待测数据格式；(S2)匹配所述待测数据格式的所述待测晶圆数据于一标准MAP格式，以确定与所述标准数据相对应的相对的所述待测晶圆数据在所述待测数据格式的相关参数，并确定是否需要转换，所述标准MAP格式所记载的数据为晶圆检测设备能够直接读取的标准数据；(S3)转录所述待测晶圆数据于所述标准MAP格式中所述标准数据；(S4)输出所述标准数据。