(原标题:一种新型存储器,结合了DRAM和SRAM的优势)
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混合型内存的研究将 DRAM 的密度与 SRAM 的速度相结合,得到了 CHIPS 和科学法案的资助。根据 9 月底的公告,混合增益单元(hybrid gain cell )内存研究是加州-太平洋-西北 AI 硬件中心的项目之一,该中心将获得美国国防部1630 万美元的资助。
该中心主席、斯坦福大学电气工程师H.-S. Philip Wong表示,该团队致力于为 AI 开发更节能的硬件,而内存是实现这一目标的核心。在逻辑和内存之间来回移动数据会降低GPU 的速度,是 AI 能耗的主要驱动因素。在芯片上拥有更多快速、密集的内存将有助于缓解这些限制,但选择有限。“我们希望提供更好的选择,以便设计师能够更好地进行优化”,无论他们是想要速度还是节能,Wong 说。
Wong 的团队正在开发一种替代内存设计,该设计结合了 SRAM 和 DRAM 的优点。DRAM 可以在相对较小的空间中存储大量数据,因为它仅由一个晶体管和一个电容器组成,但读取这些数据的速度相对较慢。SRAM 可以更快地读取数据,但其单元相对较大,由多个晶体管组成。斯坦福团队的增益单元内存结合了 DRAM 的小空间和几乎与 SRAM 一样快的速度。
结合 DRAM 和 SRAM 的优势
增益单元与 DRAM 类似,但使用第二个晶体管而不是电容器来存储数据。数据以电荷的形式存储在第二个晶体管的栅极上,栅极是一种电容结构,可控制流过晶体管的电流。普通 DRAM 中的电容器会随着时间推移而泄漏电荷,读出数据会破坏电荷。在增益单元中,读出信号是非破坏性的。事实上,读取晶体管在读出时会为存储晶体管提供信号增强,即提供增益。在 DRAM 中,“每次读取信息时,都会破坏信息”,斯坦福大学电气工程博士生Shuhan Liu说。“增益单元更好,因为它增加了一个读取晶体管。你不仅是在读取电荷,还在读取放大的信号。”
然而,增益单元也有其自身的局限性。当两个晶体管都是硅时,数据泄漏相对较快。当它们都由氧化物半导体制成时,读出速度会很慢。
Liu 和 Wong 通过将硅读取晶体管与氧化铟锡写入晶体管相结合,制造出性能更好的混合增益单元存储器,从而克服了这些限制。最终的设备可以保持其位超过 5000 秒(普通 DRAM 必须每 64 毫秒刷新一次),并且比类似的氧化物-氧化物增益单元快约 50 倍。该小组最初于 6 月在 IEEE VLSI 技术和电路研讨会上展示了他们的成果。
佐治亚理工学院电气工程师Shimeng Yu表示,硅基晶体管和氧化物晶体管的结合“减少了单元占用空间,而且氧化物晶体管的漏电流也很低” 。他表示,与硅-硅增益单元相比,这可将混合存储器的数据保留时间提高几个数量级。
Wong 表示,这些混合存储单元可以集成到逻辑芯片上。“这是重新构建计算机的机会,”他说。这些设计可能会改变内存的使用方式。他说,不再仅限于闪存、DRAM 和 SRAM,“就像从 3 档自行车变成 20 档自行车”。
https://spectrum.ieee.org/embedded-dram
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