(原标题:SRAM,还没死!)
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随着上一轮新工艺节点的出现,SRAM 微缩戛然而止,预示着片上存储器价格将越来越昂贵的黑暗未来。然而,与我们过去所见的情况相反,SRAM 微缩显然并未停止。
台积电宣布,其N2 工艺技术(2nm 级) 与上一代节点相比,在性能、能效和面积 (PPA) 方面有显著改进。然而,还有一件事台积电尚未公开讨论:SRAM 单元明显更小,SRAM 密度更高(38 Mb/mm^2),这将对下一代 CPU、GPU 和片上系统的成本和性能产生影响。
台积电即将推出的 N2 节点将采用全栅 (GAA) 纳米片晶体管,有望大幅降低功耗并提高性能和晶体管密度。与 N3E 制造技术相比,基于 N2 制造的芯片预计功耗将降低 25% 至 30%(在晶体管数量和频率相同的情况下),性能将提高 10% 至 15%(晶体管数量和功率相同),晶体管密度将提高 15%(保持相同的速度和功率)。
但根据台积电将于今年 12 月举行的 IEDM 会议上发表的论文,台积电 N2 的一个值得注意的方面是,该生产节点还将 HD SRAM 位单元尺寸缩小至约 0.0175 μm^2(使 SRAM 密度达到 38 Mb/mm^2),低于 N3 和 N5 的 0.021 μm^ 2 。
这是一项重大突破,因为近年来 SRAM 的扩展变得尤为困难。例如,台积电的 N3B(第一代 3nm 级技术)在这方面与 N5(5nm 级节点)相比优势不大,而 N3E(第二代 3nm 工艺)的 HD SRAM 位单元大小为 0.021 μm^2,与 N5 相比,在 SRAM 扩展方面没有优势。借助 N2,台积电终于成功缩小了 HD SRAM 位单元大小,从而提高了 SRAM 密度。
台积电的 GAA 纳米片晶体管似乎是缩小 HD SRAM 位单元尺寸的主要推动因素。GAA 晶体管通过用栅极材料完全包围通道,改善了对通道的静电控制,有助于减少泄漏,并允许晶体管在保持性能的同时缩小尺寸。这可以更好地缩小晶体管尺寸,这对于缩小 SRAM 单元等单个组件的尺寸至关重要。此外,GAA 结构允许更精确地调整阈值电压,这对于晶体管整体(尤其是 SRAM 单元)的可靠运行至关重要,从而可以进一步缩小其尺寸。
现代 CPU、GPU 和 SoC 设计非常依赖 SRAM,因为这些处理器严重依赖 SRAM 作为大量缓存,以高效处理大量数据。从内存访问数据既耗费性能又耗电,因此充足的 SRAM 对实现最佳性能至关重要。展望未来,对缓存和 SRAM 的需求将继续增长,因此台积电在 SRAM 单元尺寸方面的成就具有非常重要的意义。
今年早些时候,台积电表示,N2 的全栅极纳米片晶体管实现了超过 90% 的目标性能,256 Mb(32 MB)SRAM 器件的良率在某些批次中超过 80%。截至 2024 年 3 月,256 Mb SRAM 的平均良率已达到约 70%,较 2023 年 4 月的约 35% 大幅上升。器件性能也显示出稳步提升,在不增加功耗的情况下实现了更高的频率。
https://www.tomshardware.com/tech-industry/sram-scaling-isnt-dead-after-all-tsmcs-2nm-process-tech-claims-major-improvements
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